三种技术已与基于H 2 / H 2 O平衡的原始设备相结合,用于控制氧分压:XRD,TGA和DC电导率,以表征反应性极强的化合物(例如纳米粉末)。根据XRD,对结构和氧
化学计量(由于其晶格参数)进行了原位研究。从TGA,确定的是
氧气的
化学计量(由于质量的增加或减少)。从DC电导率,既得到结构又得到氧
化学计量(由于活化能)。优点是可以非常快速地确定并以少量粉末确定平衡条件(T,p O 2),以获得所需的相和
化学计量。已对纳米
钛铁氧体评估了这些方法。在还原过程中观察到了两种现象:菱面体相的沉淀和显着的晶粒长大联系在一起。