摘要 X 射线光电子能谱 (XPS) 用于证明
Bi2O3 与 SiO2 的比率和部分结晶对进入标称成分为 0.01Fe2O3⋅0.99[xSiO2⋅(100 -x) ] 10 ≤ x ≤ 60 mol%。核心能级光谱显示结合能的显着组成依赖变化,以及阳离子和氧原子的光电子峰的半峰全宽。分析揭示了与样品的离子和共价特性相关的电子密度变化。结合能的变化表明电荷从
硅和氧原子转移到
铋原子。与传统
硅酸盐氧化物体系中的预期行为相反,结果表明
硅的离子性增加,
铋原子的共价性增加。在部分结晶后观察到离子性/共价性的相同演变。