作者:L. Duò、P. Vavassori、L. Braicovich、M. Grioni、D. Malterre
DOI:10.1016/0039-6028(96)00125-2
日期:1996.6
Abstract Surface effects are detected between the f spectral functions obtained from UV and X-ray inverse photoemission spectra of a number of Ce compounds. They are: a variation of the I( f 1 ) I( f 2 ) intensity ratio, which indicates the presence of a less hybridized surface layer compared to the bulk, and a surface-to-bulk shift of the f2 component, which is larger than the expected surface core level
摘要 在从许多 Ce 化合物的 UV 和 X 射线逆光发射光谱获得的 f 光谱函数之间检测到表面效应。它们是: I( f 1 ) I( f 2 ) 强度比的变化,表明与本体相比存在杂化程度较低的表面层,以及 f2 分量的表面到本体偏移,即大于在同构 Lu 化合物上测得的预期表面核能级偏移。额外的偏移(高达 0.3 eV)被解释为与理论计算一致的杂交效应。绘制了对表面现场 ff 相关能的一些影响。