研究了系统 Al-Mo 合
金|阳极氧化膜|1.0 M HCl 溶液的电
化学性能作为合
金成分和在 1.0 M HCl 中施加的电位的函数。伏安法测量表明,x(Mo) 高于 0.50 的合
金系统几乎表现得像纯 Mo。x(Mo) 低于 0.45 的合
金系统显示出主要和次要钝化的潜在区域,其中的结构和保护性能使用电
化学阻抗谱研究了阳极氧化膜。使用Orazems图形方法和Mott-Schottky分析来提取半导体氧化膜中的恒相元素、界面电容、欧姆电阻、导电类型和电荷载流子浓度的参数值,均来自高频阻抗数据。根据基于点缺陷模型的
化学性质的表面电荷方法,讨论了在二次钝化电位范围内的低频下观察到的伪电感行为。